測量
所有分類下結果單點少子壽命測試儀
[中介]HS-CLT少子壽命測試儀是一款功能異常強大的少子壽命測試儀，不僅適用于硅片少子壽命的測量，更適用于硅塊、硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶等多種不規(guī)則形狀硅少子壽命的測量。少子測試量程從1μs到2000
激光橢偏儀針對晶硅太陽能電池絨面上的減反膜測量
[中介]多角度激光橢偏儀(PH-LE型)專門針對晶硅太陽能電池絨面上的減反膜測量，能夠測量薄膜厚度及其光學常數(shù)，使用632.8nm波長氦氖激光器，具有極高的精確度和準確度。
硅材料綜合測試儀
[中介]硅料綜合測試儀HS-PSRT
本儀器是運用四探針測量原理的多功能綜合測試裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率，適用于半導體及太陽能行業(yè)的篩選。
硅料綜合測試儀 - 產(chǎn)品特點
■ 同時檢
無接觸少子壽命掃描儀
[中介]HS-MWR-2S-3無接觸少子壽命掃描儀是一款功能異常強大的無接觸少子壽命掃描儀，能夠對單晶硅棒、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、無損傷、高分辨率的多功能掃描測試，其通過微波光電衰退特性原理來測量非平
光譜橢偏儀全自動
[中介]全自動光譜橢偏儀(PH-ASE型)把使用者從煩瑣的手動調節(jié)樣品高度和傾斜度工作中解放出來，樣品對準是為了保證橢偏儀測量的可重復性和精確性。已獲得專利的自動樣品對準裝置能夠顯著減少操作失誤；能夠工作于
自動光譜橢偏儀
[中介]光譜橢偏儀(PH-SE型)針對太陽能電池應用，可測量多晶硅/單晶硅絨面表面單層（二層或多層）減反射膜、和玻璃/有機基底上的薄膜太陽能電池。多層膜和非均勻薄膜的分析也非常出色。 針對太陽能電池應用的光譜
原生多晶及硅芯型號測試儀
[中介]HS-PSTT原生多晶及硅芯型號測試儀是一款高端半導體材料型號測試儀器，具有大量程測試范圍的特點，尤其適用于西門子法原生硅料生產(chǎn)企業(yè)的高阻硅料（含硅芯、檢磷棒、檢硼棒等）以及各種低阻硅料型號測量，型
半自動硅片厚度TTV測試儀
[中介]特征
■適用于硅片等各種材料的厚度TTV精確測量
■測量范圍：0～2mm
■分辨率：0.1μm
■微電腦控制、液晶顯示
■菜單式界面、PVC面板操作
■接觸式測量
■測頭自動升降
■手動、自動雙重測量模式
四探針電阻率方阻測試儀
[中介]本儀器用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器.本儀器按照半導體材料電阻率的國際及國家標準測試方法有關規(guī)定設計。 它主要由電器測量部份（主機）及
