功能異常 選購(gòu)指南
無(wú)接觸少子壽命掃描儀
產(chǎn)品介紹: HS-MWR-2S-3無(wú)接觸少子壽命掃描儀是一款功能異常強(qiáng)大的無(wú)接觸少子壽命掃描儀，能夠?qū)尉Ч璋簟⒍嗑Ч鑹K及硅片提供快速、無(wú)接觸、無(wú)損傷、高分辨率的多功能掃描測(cè)試，其通過(guò)微波光電衰退特性原理來(lái)測(cè)量非平衡載流子壽命的，并且單晶硅棒、多晶硅塊無(wú)須進(jìn)行特殊處理。少子壽命測(cè)試量程從0.1μs到30ms,電阻率要求范圍：0.1-1000Ω.cm,，是太陽(yáng)能電池硅片企業(yè)、多晶鑄錠企業(yè)、拉晶企業(yè)不可多得的測(cè)量?jī)x器。 產(chǎn)品特點(diǎn) ■ 無(wú)接觸和無(wú)損傷測(cè)量 ■ 自......
電話：010-60546837 15910963468 肖宗鏞 
