無接觸硅片 選購(gòu)指南

無接觸硅片厚度TTV電阻率綜合測(cè)試系統(tǒng)

  PV-1000系列無接觸硅片厚度TTV電阻率綜合測(cè)試系統(tǒng)為太陽能/光伏硅片及其他材料提供快速、多通道的厚度、（總厚度變化）TTV、翹曲及無接觸電阻率測(cè)量功能。并提供基于TCP/IP的數(shù)據(jù)傳輸接口及基于Windows的控制軟件，用以進(jìn)行在線及離線數(shù)據(jù)管理功能。 無接觸硅片綜合測(cè)試系統(tǒng)-產(chǎn)品特點(diǎn) ■ 使用MTI Instruments獨(dú)有的推/拉電容探針技術(shù) ■ 每套系統(tǒng)提供最多三個(gè)測(cè)量通道 ■ 可進(jìn)行最大、最小、平均厚度測(cè)量和TTV測(cè)量 ■ 可進(jìn)行翹曲度測(cè)量（需要3探頭） ■ 用......

電話：010-60546837 15910963468 肖宗鏞